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埋め込み型半導体レーザおよびその製造方法 专利
专利号: JP2913327B2, 申请日期: 1999-04-16, 公开日期: 1999-06-28
作者:  井上 武史;  山口 朗;  入田 丈司
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集積干渉計 专利
专利号: JP1996261714A, 申请日期: 1996-10-11, 公开日期: 1996-10-11
作者:  入田 丈司
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