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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Short-Circuit Ruggedness and Failure Mechanisms of Si/SiC Hybrid Switch 期刊论文 IEEE Transactions on Power Electronics, 2019, 卷号: Vol.34 No.3, 页码: 2771-2780 作者:  Jun Wang;  Xi Jiang;  Zongjian Li;  Z. John Shen 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/12/13 MOSFET  Silicon carbide  Logic gates  Insulated gate bipolar transistors  Switches  Leakage currents  Silicon  Failure analysis  gate control  hybrid switch (HyS)  IGBT  short-circuit (SC)  Silicon Carbide (SiC) $\scriptscriptstyle{\text{MOSFET}}$   Short-Circuit Ruggedness and Failure Mechanisms of Si/SiC Hybrid Switch 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS, 2019, 卷号: Vol.34 No.3, 页码: 2771-2780 作者:  Wang, J;  Jiang, X;  Li, ZJ;  Shen, ZJ 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/17 Short-Circuit Ruggedness and Failure Mechanisms of Si/SiC Hybrid Switch 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS, 2019, 卷号: Vol.34 No.3, 页码: 2771-2780 作者:  Wang, J;  Jiang, X;  Li, ZJ;  Shen, ZJ 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/17 Failure analysis  gate control  hybrid switch (HyS)  IGBT  short-circuit (SC)  Silicon Carbide (SiC) MOSFET   Sizing Selection Optimization of SiC/Si Hybrid Switch in DC/DC Buck Converters 会议论文 10th IEEE Annual Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), Portland, OR, 2018 作者:  Yuan, FX;  Wang, J;  Li, ZJ;  Zeng, C;  Jiang, X 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/25 Hybrid switch  size selection  short-circuit ruggedness  Junction Temperature