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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 热载流子应力下超薄栅pMOS器件氧化层陷阱电荷的表征 期刊论文 半导体学报, 2003 杨国勇; 王金延; 霍宗亮; 毛凌锋; 谭长华; 许铭真 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/10/23 MOS结构  氧化层陷阱  热载流子退化  MOS structure  oxid trap  hot-carrier degradation