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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Reliability of Memories Protected by Multibit Error Correction Codes Against MBUs 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2011, 卷号: 58, 页码: 289-295 作者:  Ming, Zhu;  Yi, Xiao Li;  Chang, Liu;  Wei, Zhang Jian 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/18 Memory  MTTF  multibit error correction codes  multiple bit upsets  reliability