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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Impact of Random Interface Traps and Random Dopants in High-k/Metal Gate Junctionless FETs 期刊论文 ieee 纳米技术汇刊, 2014 Wang, Yijiao; Huang, Peng; Wei, Kangliang; Zeng, Lang; Liu, Xiaoyan; Du, Gang; Zhang, Xing; Kang, Jinfeng 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 High-k/metal gate (HKMG)  junctionless FET (JL-FET)  random dopant fluctuation (RDF)  random interface traps (RITs)  TCAD simulation  MOSFETS  FLUCTUATIONS  VARIABILITY  SIMULATION   Random Interface Trap Induced Fluctuation in 22nm High-k/Metal Gate Junctionless and Inversion-mode FinFETs 其他 2013-01-01 Wang, Yijiao; Wei, Kangliang; Liu, Xiaoyan; Du, Gang; Kang, Jinfeng 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13