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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Low Power Testing Architecture for Test-per-Clock BIST 会议论文 作者:  Sun Haijun;  Wang Xuanming;  Lei Shaochong;  Shao Zhibiao 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/10 ingle Input Change (SIC) sequence  power  weight  Gray code  seed  Built-in Self-Test (BIST)