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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A low power test pattern generation method 期刊论文 Hsi-An Chiao Tung Ta Hsueh/Journal of Xi'an Jiaotong University, 2013, 卷号: 47, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 47-52 作者:  Zhang, Guohe;  Ji, Lili;  Zhang, Linlin;  Lei, Shaochong;  Liang, Feng 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/03 Hardware overheads  Linear feedback shift registers  Low Power  Low power test  Low transition  Power overhead  Pseudo-random tests  Reconfigurable  Single input changes  Test Pattern  Test pattern generations  Test pattern generator  Test power  VLSI tests   Integrated Test-Architecture Optimization and Thermal-Aware Test Scheduling for 3-D SoCs Under Pre-Bond Test-Pin-Count Constraint 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2012 作者:  Li Jiang;  Qiang Xu;  Krishnendu Chakrabarty;  T. M. Mak 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2015/08/25 深亚微米/纳米集成电路互连线寄生电容的提取和敏感度分析 学位论文 博士: 中国科学院电工研究所, 2008 1屈慧,电工研究所 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2010/10/18 集成电路寄生参数提取  敏感度  工艺变化  扰动有限元  模式库  采样点 Integrated circuit (IC), parasitic extraction, sensitivity analysis, process variation, perturbation FEM, pattern library, sample point   Method and apparatus for OPTO-electronic built-in tests 专利 专利号: US20020025100A1, 申请日期: 2002-02-28, 公开日期: 2002-02-28 作者:  LAPRISE, EMMANUELLE;  PLANT, DAVID V. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/31