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金属研究所 [2]
半导体研究所 [2]
上海技术物理研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2019 [1]
2011 [4]
学科主题
半导体材料 [1]
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Raman spectroscopic determination of hole concentration in undoped GaAsBi
期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2019, 卷号: 34, 期号: 1, 页码: 15008
作者:
Zhu Sixin
;
Qiu Weiyang
;
Wang Han
;
Lin Tie
;
Chen Pingping
收藏
  |  
浏览/下载:39/0
  |  
提交时间:2019/11/13
GaAsBi
Raman spectroscopy
LO-phonon-plasmon-modes
Hole density
Hall measurements
Determination of the transport properties in 4h-sic wafers by raman scattering measurement
期刊论文
Chinese physics b, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 6
作者:
Sun Guo-Sheng
;
Liu Xing-Fang
;
Wu Hai-Lei
;
Yan Guo-Guo
;
Dong Lin
收藏
  |  
浏览/下载:25/0
  |  
提交时间:2019/05/12
4h-sic
Raman scattering
Lopc modes
Transport properties
Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 6
作者:
Sun Guo-Sheng
;
Liu Xing-Fang
;
Wu Hai-Lei
;
Yan Guo-Guo
;
Dong Lin
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2021/02/02
4H-SiC
Raman scattering
LOPC modes
transport properties
Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 6
作者:
Sun Guo-Sheng
;
Liu Xing-Fang
;
Wu Hai-Lei
;
Yan Guo-Guo
;
Dong Lin
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2021/02/02
4H-SiC
Raman scattering
LOPC modes
transport properties
Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement
期刊论文
chinese physics b, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: article no.33301
作者:
Liu XF
;
Yan GG
;
Zheng L
;
Dong L
收藏
  |  
浏览/下载:40/3
  |  
提交时间:2011/07/05
4H-SiC
Raman scattering
LOPC modes
transport properties
SILICON-CARBIDE
LIGHT
GAP
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