×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
自然资源部第一海洋研... [2]
大连理工大学 [1]
上海微系统与信息技术... [1]
武汉物理与数学研究所 [1]
高能物理研究所 [1]
中国医学科学院 北京... [1]
更多...
内容类型
期刊论文 [7]
专利 [1]
发表日期
2017 [1]
2015 [2]
2013 [1]
2010 [1]
2002 [1]
1999 [1]
更多...
学科主题
Chemistry [1]
Chemistry,... [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共8条,第1-8条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Identification of impurities in macrolides by liquid chromatography-mass spectrometric detection and prediction of retention times of impurities by constructing quantitative structure-retention relationship (QSRR)
期刊论文
2017, 卷号: 145, 页码: 262-272
作者:
Zhang, Xia
;
Li, Jin
;
Wang, Chen
;
Song, Danqing
;
Hu, Changqin
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2020/01/03
Impurity profiling
Quantitative structure-retention relationship
Liquid chromatography tandem mass spectrometry
16-membered ring macrolides
Development of an impurity-profiling method for source identification of spilled benzene series compounds by gas chromatography with mass spectrometry: Toluene as a case study
期刊论文
JOURNAL OF SEPARATION SCIENCE, 2015, 卷号: 38, 期号: 18, 页码: 3198-3204
作者:
Han, Bin
;
Chen, Junhui
;
Zheng, Li
;
Zhou, Tao
;
Li, Jingxi
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/08/19
Benzene series
Diagnostic ratio
Identification
Impurity profiling
Toluene
Development of an impurity-profiling method for source identification of spilled benzene series compounds by gas chromatography with mass spectrometry: Toluene as a case study
期刊论文
JOURNAL OF SEPARATION SCIENCE, 2015, 卷号: 38, 期号: 18, 页码: 3198-3204
作者:
Han, Bin
;
Chen, Junhui
;
Zheng, Li
;
Zhou, Tao
;
Li, Jingxi
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2018/12/07
Benzene series
Diagnostic ratio
Identification
Impurity profiling
Toluene
Laser-induced breakdown spectroscopic characterization of impurity deposition on the first wall of a magnetic confined fusion device: Experimental Advanced Superconducting Tokamak
期刊论文
SPECTROCHIMICA ACTA PART B-ATOMIC SPECTROSCOPY, 2013, 卷号: 87, 页码: 147-152
作者:
Hai, Ran
;
Farid, Nazar
;
Zhao, Dongye
;
Zhang, Lei
;
Liu, Jiahong
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/12/11
LIBS
PFCs
Tokamak
Depth profiling
EAST
Carrier Profiling of Individual Si Nanowires by Scanning Spreading Resistance Microscopy
期刊论文
NANO LETTERS, 2010, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 171-175
Ou, X
;
Das Kanungo, P
;
Kogler, R
;
Werner, P
;
Gosele, U
;
Skorupa, W
;
Wang, X
收藏
  |  
浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2012/03/24
SILICON NANOWIRES
PILE-UP
PHOSPHORUS
IMPURITIES
INTERFACE
TRANSPORT
GERMANIUM
DENSITY
Semiconductor Laser
专利
专利号: GB2369725A, 申请日期: 2002-06-05, 公开日期: 2002-06-05
作者:
JOHN, HAIG, MARSH
;
CRAIG, JAMES, HAMILTON
;
OLEK, PETER, KOWALSKI
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2020/01/18
Impurity profiling in bulk pharmaceutical batches using F-19 NMR spectroscopy and distinction between monomeric and dimeric impurities by NMR-based diffusion measurements
期刊论文
JOURNAL OF PHARMACEUTICAL AND BIOMEDICAL ANALYSIS, 1999, 卷号: 19, 期号: 3-4, 页码: 511-517
作者:
Mistry, N
;
Ismail, IM
;
Farrant, RD
;
Liu, ML
;
Nicholson, JK
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2015/12/01
NMR
F-19
diffusion
impurity
fluticasone
production
DETERMINATION OF DEPTH PROFILING OF METAL TRACE IMPURITIES ON SI SURFACE USING TOTAL REFLECTION X-RAY-FLUORESCENCE
期刊论文
FRESENIUS JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY, 1993, 卷号: 345, 期号: 7, 页码: 518-520
作者:
Fan QM(范钦敏)
;
Liu YW(刘亚雯)
;
LI, DL
;
Wei CL(魏诚林)
;
FAN, QM
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2016/06/28
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace