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Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 1, 页码: 374-381
作者:  Cai, Chang;  Liu, Tianqi;  Zhao, Peixiong;  Fan, Xue;  Huang, Hongyang
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/01/19
SEU tolerance improvement in 22 nm UTBB FDSOI SRAM based on a simple 8T hardened cell 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 6
作者:  Cai, C.;  Zhao, P. X.;  Xu, L. W.;  Liu, T. Q.;  Li, D. Q.
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2022/01/19
Addressing Failure and Aging Degradation in MRAM/MeRAM-on-FDSOI Integration 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: 66, 页码: 239-250
作者:  Cai, Hao;  Wang, You;  Naviner, Lirida Alves de Barros;  Liu, Xinning;  Shan, Weiwei
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/30
The total ionizing dose response of leading-edge FDSOI MOSFETs 会议论文
作者:  Wang J(王剑);  Li BH(李彬鸿);  Huang Y(黄杨);  K.Zhao;  F.Yu
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2019/05/13
Characteristics of Single Event Upsets induced by Heavy Ions in 28nm UTBB-FDSOI SRAM with Several Types of Radiation Harden Bit-cells 会议论文
作者:  Bo Mei;  Qingkui Yu;  Yong Ge;  Yi Sun;  Hongwei Zhang
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/05/10
Total Ionizing Dose Characterization of a SRAM in 28nm UTBB FDSOI Technology 会议论文
作者:  Qiwen Zheng;  mengxin Liu;  Jiangwei Cui;  Shanxue Xi;  Ying Wei
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2019/05/10
The total ionizing dose response of leading-edge FDSOI MOSFETs 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2018
作者:  Li BH(李彬鸿);  Gao JT(高见头);  Cai XW(蔡小五);  Cui Y(崔岩);  Wang J(王剑)
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/03/29
Thermal Characteristics of ESD Diode in FDSOI Technologies 会议论文
2018 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid State Circuits, EDSSC 2018, Shenzhen, China, 2018-06-06
作者:  Yang, Zhaonian;  Yu, Ningmei;  Liou, Juin J.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/20
Electromagnetic susceptibility characterization of double SOI device 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2016
作者:  Luo JJ(罗家俊);  Li BH(李彬鸿);  Gao JT(高见头)
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2017/05/08
FDSOI器件中超薄BOX对性能和短沟道效应的影响 学位论文
: 中国科学院大学, 2016
作者:  谭思昊
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2017/08/29

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