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| FLOTOX结构的EEPROM可靠性研究 期刊论文 西安电子科技大学学报, 2004 罗宏伟; 杨银堂; 朱樟明; 解斌; 王金延
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| Investigation of endurance characteristic using PDO method in FLOTOX EEPROM structures 其他 2004-01-01 Xie, B; He, YD; Xu, MZ; Tan, CH
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| FLOTOX结构的EEPROM可靠性研究 期刊论文 西安电子科技大学学报自然科学版, 2004 罗宏伟; 杨银堂; 朱樟明; 解斌; 王金延
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| An investigation of endurance characteristic using PDO method in FLOTOX EEPROM structures 其他 2004-01-01 Xie, Bing; He, Yandong; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
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| 一种预测FLOTOX EEPROM可靠性的方法 其他 2003-01-01 解冰; 许铭真; 谭长华
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