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一种预测FLOTOX EEPROM可靠性的方法
解冰 ; 许铭真 ; 谭长华
2003
关键词FLOTOX EEPROM 可靠性 阈值窗口
英文摘要本文提出一种预测FLOTOX EEPROM可靠性的方法,该方法利用EEPROM擦写过程中隧道氧化层中的陷阱电荷的产生时间常数与阈值窗口开始关闭的时间成正比来预测脉冲应力电压相对较低时的阈值窗口关闭的时间,该方法与"利用脉冲应力相对较高情况下的阈值窗口开始退化的时间来预测脉冲应力电压相对较低时的阈值窗口退化的时间"相比,大大节约了测量时间.; 0
语种中文
内容类型其他
源URL[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/185834]  
专题信息科学技术学院
推荐引用方式
GB/T 7714
解冰,许铭真,谭长华. 一种预测FLOTOX EEPROM可靠性的方法. 2003-01-01.
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