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高光谱遥感高速成像电路电磁兼容设计 期刊论文
系统工程与电子技术, 2021, 卷号: 43, 期号: 1, 页码: 26-32
作者:  刘永征;  刘学斌;  刘文龙;  张昕;  陈小来
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2021/01/29
一种配方烟丝中膨胀烟丝全自动分离仪及其控制方法 专利
专利号: CN105910943B, 申请日期: 2019-03-01,
作者:  邓国栋;  花昌义;  李志刚;  堵劲松;  张大波
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2021/12/14
EMC design for actuators in the FAST reflector 期刊论文
RESEARCH IN ASTRONOMY AND ASTROPHYSICS, 2018, 卷号: 18, 期号: 4, 页码: 6
作者:  Zhang, Hai-Yan;  Wu, Ming-Chang;  Yue, You-Ling;  Gan, Heng-Qian;  Hu, Hao
收藏  |  浏览/下载：56/0  |  提交时间：2019/04/08
EMC design for actuators in the FAST reflector 期刊论文
RESEARCH IN ASTRONOMY AND ASTROPHYSICS, 2018, 卷号: 18, 期号: 4, 页码: 6
作者:  Zhang, Hai-Yan;  Wu, Ming-Chang;  Yue, You-Ling;  Gan, Heng-Qian;  Hu, Hao
收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2020/03/11
Modeling and Simulation on Overall-train EMI of China Standardized High-speed Train 会议论文
作者:  Ji, Junpeng;  Liu, Yikun;  Chen, Wenjie;  Li, Jingang;  Yang, Xu
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/11/19
Modeling and Simulation on Overall-train EMI of China Standardized High-speed Train 会议论文
2018 JOINT IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY AND 2018 IEEE ASIA-PACIFIC SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC/APEMC), 2018-01-01
作者:  Ji, Junpeng;  Liu, Yikun;  Chen, Wenjie;  Li, Jingang;  Yang, Xu
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/20
Basic Emission Waveform Theory: A Novel Interpretation and Source Identification Method for Electromagnetic Emission of Complex Systems 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, 2018, 卷号: 60, 页码: 1330-1339
作者:  Su, Donglin;  Xie, Shuguo;  Chen, Aixin;  Shang, Xiaofan;  Zhu, Kaixiang
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/30
Noncontact Wideband Current Probes With High Sensitivity and Spatial Resolution for Noise Location on PCB 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2018, 卷号: 67, 页码: 2881-2891
作者:  Yan, Zhaowen;  Liu, Wei;  Wang, Jianwei;  Su, Donglin;  Yan, Xin
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/30
Objective Total Isotropic Sensitivity Measurement 期刊论文
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2017, 卷号: Vol.59 No.6, 页码: 1671-1676
作者:  Qi, Yihong;  Wu, Jiyu;  Zhang, Zheng;  Liu, Lie;  Yu, Wei
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/12/31
Microcontroller susceptibility variations to EFT burst during accelerated aging 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2016
作者:  Li BH(李彬鸿)
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2017/05/08

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