QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 HALO结构pMOSFETs在Vg=Vd/2应力模式下应力相关的热载流子退化 期刊论文 半导体学报, 2004 胡靖; 赵要; 许铭真; 谭长华 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/12 热载流子 一次碰撞电离 二次碰撞电离 复合   在Vg=Vd/2应力模式下2.5nm氧化层pMOSFETs的新寿命预测模型 期刊论文 半导体学报, 2004 胡靖; 赵要; 许铭真; 谭长华 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/16 热载流子 复合 电子注入 二次碰撞电离 hot carriers recombination electron injection secondary impact ionization