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金属研究所 [1]
光电技术研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2014 [1]
1987 [1]
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光谱法确定离子束溅射Ta_2O_5/SiO_2薄膜的光学常数及其性能
期刊论文
光学学报, 2014, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 306-312
作者:
尚鹏
;
熊胜明
;
李凌辉
;
田东
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/11/21
薄膜
光学常数
透射光谱
Ta2O5/SiO2
辉光光谱分析中内标法的应用
期刊论文
分析化学, 1987, 期号: 6, 页码: 528-531
葛毅宁
;
黄巧
;
于波
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2012/04/12
分析结果:8363
定量分析:2721
光谱分析:2666
内标法:2031
金属表面:1766
辉光:1410
谱线强度:1403
谱分析方法:1379
恒定电压:1158
溅射率:1039
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