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上海光学精密机械研究... [2]
西安光学精密机械研究... [1]
内容类型
专利 [1]
学位论文 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2008 [2]
2006 [1]
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椭偏技术在波片测量中的应用研究
学位论文
硕士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2008
作者:
缪洁
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2016/11/28
椭偏测量
相位延迟
四区域法
波片
元件缺陷
四区域法消除偏振棱镜缺陷对波片相位延迟测量的影响
期刊论文
光学学报, 2008, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 1938, 1941
缪洁
;
林强
;
张艳丽
;
张燕
;
杨朋千
;
朱健强
收藏
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浏览/下载:912/181
  |  
提交时间:2009/09/18
光学测量
相位延迟
四区域法
波片
元件缺陷
Device imperfection
Four-zone method
Optical measurement
Phase retardation
Wave plate
光接收和发射集成器件及其光拾取器、光盘设备
专利
专利号: CN1725320A, 申请日期: 2006-01-25, 公开日期: 2006-01-25
作者:
小野信正
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提交时间:2020/01/18
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