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| 片上系统中ADC内建自测试电路及测试方法 专利
专利号: CN201610065972.8, 申请日期: 2018-09-11, 公开日期: 2016-06-15
作者: 陈岚 ; 柳臻朝; 王东; 冯燕
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| 一种带广播结构的低成本内建自测试结构 专利
申请日期: 2018-05-04,
作者: 梁峰; 王烨; 雷绍充; 袁野; 张国和
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/11/26 |
| 基于低精度信号源的高精度ADC静态参数测试算法研究与设计 学位论文
2018
作者: 陈伟盛
收藏 | 浏览/下载：4/0 | 提交时间：2019/11/26
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| 高故障覆盖率低成本内建自测试的测试生成研究 学位论文
2018
作者: 王烨
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/11/26
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| 一种低功耗低成本测试图形的生成方法 期刊论文
西安交通大学学报, 2017
作者: 王烨; 梁峰; 闫丹; 雷绍充
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/11/26
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| 基于广播和带解压缩电路的内建自测试方法研究与设计 学位论文
2017
作者: 闫丹
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/11/26
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| 基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究 期刊论文
仪表技术与传感器, 2017, 期号: 1
作者: 夏继军
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/12/05
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| 基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究 期刊论文
仪表技术与传感器, 2017, 期号: 1
作者: 夏继军
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2019/12/05
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| 基于谱变换的伪随机测试方法研究 学位论文
: 湖南大学, 2017
作者: 蒋和平
收藏 | 浏览/下载：7/0 | 提交时间：2019/12/26
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| FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究 期刊论文
2016, 2016
张双悦; 李硕; 王红; 杨士元; ZHANG Shuang-yue; LI Shuo; WANG Hong; YANG Shi-yuan
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