片上系统中ADC内建自测试电路及测试方法

	片上系统中ADC内建自测试电路及测试方法
	陈岚; 柳臻朝; 王东; 冯燕
	2018-09-11
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN201610065972.8
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开了一种片上系统中ADC内建自测试电路及测试方法，该电路包括：控制模块、信号处理模块、测试模块；所述控制模块，用于在待测ADC施加激励信号后输出的响应信号达到稳定后，触发所述信号处理模块和所述测试模块开始工作；所述信号处理模块，用于对所述响应信号进行采样，对采样得到的采样值实序列进行FFT变换，得到所述响应信号的频谱信号数据；所述测试模块，用于根据所述响应信号的频谱信号数据计算所述响应信号的动态参数。本发明可以不依赖于片上DSP，实现对片上ADC的BIST。
公开日期	2016-06-15
申请日期	2016-01-29
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://159.226.55.107/handle/172511/18650]
专题	微电子研究所_EDA中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	陈岚,柳臻朝,王东,等. 片上系统中ADC内建自测试电路及测试方法. CN201610065972.8. 2018-09-11.