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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 PDS: Pseudo-Differential Sensing Scheme for STT-MRAM 其他 2016-01-01 Kang, Wang; Pang, Tingting; Wu, Bi; Lv, Weifeng; Zhang, Youguang; Sung, Guanyu; Zhao, Weisheng 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2017/12/03 STT-MRAM  Asymmetric sensing  Reliability  Write power  Error detection and correction  CIRCUIT  MEMORY  TECHNOLOGY  ENERGY  MODEL   Impact of Temporal Transistor Variations on Circuit Reliability 其他 2015-01-01 Wang, Runsheng; Cao, Yu 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 circuit reliability  temporal variation  bias temperature instability (BTI)  random telegraph noise (RTN)   A Unified FinFET Reliability Model Including High K Gate Stack Dynamic Threshold Voltage, Hot Carrier Injection, and Negative Bias Temperature Instability 其他 2009-01-01 Ma, Chenyue; Li, Bo; Zhang, Lining; He, Jin; Zhang, Xing; Lin, Xinnan; Chan, Mansun 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/12 Model  Reliability  HKSDT  HCI  NBTI  circuit  NBTI DEGRADATION  GENERATION  ELECTRONS