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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017    专题：武汉大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 The temperature and size effect on the electrical resistivity of Cu/V multilayer films 期刊论文 ACTA MATERIALIA, 2017, 卷号: 126 作者:  Wang, P. P.;  Wang, X. J.;  Du, J. L.;  Ren, F.;  Zhang, Y. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/05 Electrical resistivity  Multilayer thin films  Interface  Grain boundary  Temperature coefficient of resistivity