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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2011    专题：湖南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A scan disabling-based BAST scheme for test cost reduction 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2011, 卷号: Vol.8 No.16, 页码: 1367-1373 作者:  You, ZQ;  Wang, WZ;  Dou, ZP;  Liu, P;  Kuang, JS 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 design for testability (DFT)  test data volume compression  test application time reduction  scan chain disabling   Test data compression using interval broadcast scan for embedded cores 期刊论文 Microelectronics Journal, 2011, 卷号: Vol.42 No.11, 页码: 1313-1319 作者:  Zhang, Ling;  Kuang, Ji-Shun;  You, Zhiq-Qiang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 Test data compression  Embedded cores  Multiple scan chains   Test Data Compression Using Selective Sparse Storage 期刊论文 Journal of Electronic Testing, 2011, 卷号: Vol.27 No.4, 页码: 565-577 作者:  Zhang, L;  Kuang, JS;  You, ZQ 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2020/01/05 Test data compression  Sparse storage  Soc testing  Regular test set  Code-based schemes   A New Test Data Compression Scheme 期刊论文 Journal of Computers, 2011, 卷号: Vol.6 No.7, 页码: 1297-1301 作者:  Zhang, Ling;  Kuang, Jishun 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 hybrid prefix code  embedded core testing  test data compression  test regeneration