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	Test data compression using interval broadcast scan for embedded cores
	Zhang, Ling; Kuang, Ji-Shun; You, Zhiq-Qiang
刊名	Microelectronics Journal
	2011
卷号	Vol.42 No.11页码:1313-1319
关键词	Test data compression Embedded cores Multiple scan chains
ISSN号	0026-2692
URL标识	查看原文
公开日期	[db:dc_date_available]
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6514173
专题	湖南大学
作者单位	1.School of Computer and Communication, Hunan University, Changsha 410082, China 2.School of Computer Science, Huangshi Institute of Technology, Huangshi 435007, China
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhang, Ling,Kuang, Ji-Shun,You, Zhiq-Qiang. Test data compression using interval broadcast scan for embedded cores[J]. Microelectronics Journal,2011,Vol.42 No.11:1313-1319.
APA	Zhang, Ling,Kuang, Ji-Shun,&You, Zhiq-Qiang.(2011).Test data compression using interval broadcast scan for embedded cores.Microelectronics Journal,Vol.42 No.11,1313-1319.
MLA	Zhang, Ling,et al."Test data compression using interval broadcast scan for embedded cores".Microelectronics Journal Vol.42 No.11(2011):1313-1319.

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