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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 氮元素对高k铪基介电薄膜总剂量抗辐射性能的影响研究 期刊论文 核技术, 2007, 期号: 08 宋朝瑞; 程新红; 张恩霞; 邢玉梅; 俞跃辉; 郑志宏; 沈勤我; 张正选; 王曦 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/01/06 注氧隔离  绝缘体上硅  总剂量辐射效应   高温碳离子注入形成碳化硅埋层的结构研究 期刊论文 功能材料与器件学报, 2004, 期号: 03 邢玉梅; 俞跃辉; 林梓鑫; 宋朝瑞; 杨文伟 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/01/06 DNA芯片  乙型肝炎病毒  基因多态性  地高辛   在SOI材料上制备高质量的氧化铪薄膜 期刊论文 功能材料, 2004, 期号: 06 邢玉梅; 陶凯; 俞跃辉; 郑志宏; 杨文伟; 宋朝瑞; 沈达身 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2012/01/06 CDMA  LTJ  格型滤波器  LMS  窄带干扰抑制  自适应非线性滤波器   用IBED方法在SOI上制备高质量的氧化铪薄膜 会议论文 第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会, 2003 邢玉梅; 陶凯; 俞跃辉; 宋朝瑞; 郑志宏 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2012/01/18 IBED方法 SOI 氧化铪薄膜 离子束辅助增强沉积系统 X射线衍射技术 电介质绝缘性能