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微电子研究所 [4]
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期刊论文 [4]
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2017 [2]
2015 [1]
2014 [1]
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pMOSFETs Featuring ALD W Filling Metal Using SiH4 and B2H6 Precursors in 22 nm Node CMOS Technology
期刊论文
Nanoscale Research Letters, 2017
作者:
Zhao C(赵超)
;
Wang GL(王桂磊)
;
Luo J(罗军)
;
Liu JB(刘金彪)
;
Yang T(杨涛)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2018/07/05
Integration of Highly Strained SiGe in Source and Drain with HK and MG for 22 nm Bulk PMOS Transistors
期刊论文
Nanoscale Research Letters, 2017
作者:
Wang GL(王桂磊)
;
Ye TC(叶甜春)
;
Henry Homayoun Radamson
;
Zhao C(赵超)
;
Zhu HL(朱慧珑)
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2018/07/05
Impact of pattern dependency of SiGe layers grown selectively in source/drain on the performance of 22nm node pMOSFETs
期刊论文
Solid-State Electronics, 2015
作者:
Li JF(李俊峰)
;
Wang GL(王桂磊)
;
Xu YF(徐烨峰)
;
Luo J(罗军)
;
Guo YL(郭奕栾)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2016/05/31
SiGe Selective Epitaxial Growth Process for 22 nm Node CMOS and Beyond
期刊论文
The Electrochemical Society, 2014
作者:
Xu Q(徐强)
;
Wang GL(王桂磊)
;
Ye TC(叶甜春)
;
Luo J(罗军)
;
Li CL(李春龙)
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2015/04/24
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