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科研机构
西安交通大学 [28]
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期刊论文 [21]
会议论文 [7]
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2018 [2]
2017 [10]
2016 [4]
2015 [4]
2014 [4]
2012 [3]
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专题:西安交通大学
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Five-year national surveillance of invasive candidiasis: Species distribution and azole susceptibility from the China hospital invasive fungal surveillance net (CHIF-NET) study
期刊论文
Journal of Clinical Microbiology, 2018, 卷号: 56
作者:
Xiao, Meng
;
Sun, Zi-Yong
;
Kang, Mei
;
Guo, Da-Wen
;
Liao, Kang
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浏览/下载:62/0
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提交时间:2019/11/26
Antifungal susceptibility
China
Epidemiology
Fluconazole
Invasive candidiasis
Voriconazole
A radiation-hardening Ta/Ta2O5-x/Al2O3/InGaZnO4 memristor for harsh electronics
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2018, 卷号: 113
作者:
Wang, Jingjuan
;
Ren, Deliang
;
Zhang, Zichang
;
Xiang, Hongwen
;
Zhao, Jianhui
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2019/11/26
Compliance Current Effect on Switching Behavior of Hafnium Oxide based RRAM
会议论文
作者:
Qi, Yanfei
;
Zhao, Chun
;
Fang, Yuxiao
;
Lu, Qifeng
;
Liu, Chenguang
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/11/26
Investigation of Anomalous Capacitance-Voltage Behavior Caused by Interface Dipoles and the Effect of Post-Metal-Annealing
会议论文
作者:
Lu, Qifeng
;
Zhao, Ce Zhou
;
Zhao, Chun
;
Taylor, Steve
;
Chalker, Paul R.
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/11/26
MOS
Zr(NMe2)(4)
Anomalous capacitance-voltage
Capacitance-voltage characteristics measured through pulse technique on high-k dielectric MOS devices
会议论文
作者:
Lu, Qifeng
;
Qi, Yanfei
;
Zhao, Ce Zhou
;
Zhao, Chun
;
Taylor, Stephen
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/11/26
Capacitance-voltage characteristics
High-k dielectrics
Pulse technique
Investigation of Anomalous Hysteresis in MOS Devices With ZrO2 Gate Dielectrics
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2017, 卷号: 17, 页码: 526-530
作者:
Lu, Qifeng
;
Qi, Yanfei
;
Zhao, Ce Zhou
;
Liu, Chenguang
;
Zhao, Chun
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/11/26
deposition temperature
Capacitance-voltage characteristics
interface dipoles
annealing condition
Influence of HfAlO Composition on Resistance Ratio of RRAM with Ti electrode
会议论文
作者:
Qi, Yanfei
;
Fang, Yuxiao
;
Zhao, Chun
;
Lu, Qifeng
;
Liu, Chenguang
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/11/26
Effects of Biased Irradiation on Charge Trapping in HfO2 Dielectric Thin Films
会议论文
作者:
Mu, Yifei
;
Zhao, Ce Zhou
;
Lu, Qifeng
;
Zhao, Chun
;
Qi, Yanfei
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/11/26
HfO2
Thin Films
Charge Trapping
Chinese systemic lupus erythematosus treatment and research group registry IX: Clinical features and survival of childhood-onset systemic lupus erythematosus in china
期刊论文
Chinese Medical Journal, 2017, 卷号: 130, 页码: 1276-1282
作者:
Wu, Chan-Yuan
;
Li, Cai-Feng
;
Wu, Qing-Jun
;
Xu, Jian-Hua
;
Jiang, Lin-Di
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浏览/下载:58/0
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提交时间:2019/11/26
Childhood Onset
Outcomes
Systemic Lupus Erythematosus
Total Dose Effects and Bias Instabilities of (NH4)(2)S Passivated Ge MOS Capacitors With HfxZr1-xOy Thin Films
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2017, 卷号: 64, 页码: 2913-2921
作者:
Mu, Yifei
;
Fang, Yuxiao
;
Zhao, Ce Zhou
;
Zhao, Chun
;
Lu, Qifeng
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/11/26
germanium
HfxZr1-xOy
interface traps
total dose effect
oxide trapped charges
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