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科研机构
北京大学 [9]
武汉大学 [4]
内容类型
其他 [13]
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2018 [2]
2017 [2]
2016 [1]
2015 [2]
2013 [1]
2012 [1]
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Effect of Gamma-ray Irradiation on Trap Characteristics of Polyethylene Based Micro/Nanocomposites
其他
2018-01-01
作者:
Wang, X. F.
;
Gao, Y.
;
Li, N.
;
Xu, B. B.
;
Wang, J. L.
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/12/05
polyethylene
micro/nanocomposites
gamma-ray irradiation
trap characteristics
Effect of Gamma-ray Irradiation on Trap Characteristics of Polyethylene Based Micro/Nanocomposites
其他
2018-01-01
作者:
Wang, X. F.
;
Gao, Y.
;
Li, N.
;
Xu, B. B.
;
Wang, J. L.
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/12/05
polyethylene
micro/nanocomposites
gamma-ray irradiation
trap characteristics
Spatiotemporal dynamics of climate and agricultural landscape patterns in Xinjiang, China (2000-2015)
其他
2017-01-01
作者:
Huang, T.
;
Du, Q. Y.
;
Zou, J. Q.
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Spatiotemporal dynamics of climate and agricultural landscape patterns in Xinjiang, China (2000-2015)
其他
2017-01-01
作者:
Huang, T.
;
Du, Q. Y.
;
Zou, J. Q.
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Insight into PBTI in InGaAs Nanowire FETs with Al2O3 and LaAlO3 Gate Dielectrics
其他
2016-01-01
Li, Y.
;
Di, S. Y.
;
Jiang, H.
;
Huang, P.
;
Wang, Y. J.
;
Lun, Z. Y.
;
Shen, L.
;
Yin, L. X.
;
Zhang, X.
;
Du, G.
;
Liu, X. Y.
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
An Investigation of DC/AC Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, H.
;
Liu, X. Y.
;
Xu, N.
;
He, Y. D.
;
Du, G.
;
Zhang, X.
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
multi-gate FET
Silicon-on-insulator
hot carrier degradation
reliability
N-FINFETS
INJECTION
MOSFETS
GATE
Research on High-Speed Data Acquisition and Real-Time Signal Processing Method Based on Tunable Diode Laser Spectroscopy
其他
2015-01-01
Du, X. F.
;
Dong, D. M.
;
Jiao, L. Z.
;
Han, P. C.
;
Lang, Y.
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
TDLS
Second harmonic
Multi-channel
High-speed acquisition
MU-M
ABSORPTION
Analytic Model of Endurance Degradation and Its Practical Applications for Operation Scheme Optimization in Metal Oxide Based RRAM
其他
2013-01-01
Huang, P.
;
Chen, B.
;
Wang, Y. J.
;
Zhang, F. F.
;
Shen, L.
;
Liu, R.
;
Zeng, L.
;
Du, G.
;
Zhang, X.
;
Gao, B.
;
Kang, J. F.
;
Liu, X. Y.
;
Wang, X. P.
;
Weng, B. B.
;
Tang, Y. Z.
;
Lo, G-Q.
;
Kwong, D.L.
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
A Physical Based Analytic Model of RRAM Operation for Circuit Simulation
其他
2012-01-01
Huang, P.
;
Liu, X. Y.
;
Li, W. H.
;
Deng, Y. X.
;
Chen, B.
;
Lu, Y.
;
Gao, B.
;
Zeng, L.
;
Wei, K. L.
;
Du, G.
;
Zhang, X.
;
Kang, J. F.
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/13
Evaluating the Effects of Physical Mechanisms on the Program, Erase and Retention in the Charge Trapping Memory
其他
2008-01-01
Song, Y. C.
;
Liu, X. Y.
;
Wang, Z. Y.
;
Zhao, K.
;
Du, G.
;
Kang, J. F.
;
Han, R. Q.
;
Xia, Z. L.
;
Kim, D.
;
Lee, K-H
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
Charge Trapping Memory
Non-volatile Memory
Simulation of Programming/Erasing/Retention Characteristics
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