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基于Recess欧姆接触结构的AlGaN/GaN HEMT器件研究 期刊论文
半导体技术, 2017
作者:  魏珂;  陈诗哲;  刘新宇;  王泽卫;  张宗敬
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GaN基器件肖特基接触可靠性的评价方法 专利
专利号: CN201410005400.1, 申请日期: 2017-03-22, 公开日期: 2014-04-16
作者:  郑英奎;  赵妙;  欧阳思华;  李艳奎;  刘新宇
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