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碳化硅与硅探测器辐射探测性能比较 期刊论文
核电子学与探测技术, 2016, 卷号: 36, 期号: 10, 页码: 1044-1048
作者:  崔兴柱;  王晓华;  彭文溪;  乔锐;  刘雅清
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