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Comparison Study of Bulk and SOI CMOS Technologies based Rad-hard ADCs in Space 会议论文
作者:  Han ZS(韩郑生);  Zhang G(张刚);  Gao JT(高见头);  Zhao FZ(赵发展);  Li B(李博)
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煤粉在高温热解时二次失重现象的实验研究 会议论文
作者:  曾雄伟;  齐朝博;  郑树;  周怀春
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