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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2015    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Theoretical Investigation of Orientation-Dependent Transport in Monolayer MoS2 Transistors at the Ballistic Limit 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015 Liu, Fei; Wang, Yijiao; Liu, Xiaoyan; Wang, Jian; Guo, Hong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 Field effect transistor  MoS2  orientation dependence  FIELD-EFFECT TRANSISTORS   Simulation of Positive Bias Temperature Instability (PBTI) in high-k FinFET by KMC method 其他 2015-01-01 Li, Yun; Wang, Yijiao; Jiang, Hai; Du, Gang; Kang, Jinfeng; Liu, Xiaoyan 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 Simulation Study of the Impact of Quantum Confinement on the Electrostatically Driven Performance of n-type Nanowire Transistors 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2015 Wang, Yijiao; Al-Ameri, Talib; Wang, Xingsheng; Georgiev, Vihar P.; Towie, Ewan; Amoroso, Salvatore Maria; Brown, Andrew R.; Cheng, Binjie; Reid, David; Riddet, Craig; Shifren, Lucian; Sinha, Saurabh; Yeric, Greg; Aitken, Robert; Liu, Xiaoyan; Kang, Jinfeng; Asenov, Asen 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 CMOS  electrostatics  nanowire transistors (NWs)  performance  quantum effects  TCAD  STATISTICAL VARIABILITY  INVERSION-LAYERS  GATE  CMOS  GENERATION  ELECTRON  DENSITY  FINFETS  DEVICES  MOSFETS   3D KMC reliability simulation of nano-scaled HKMG nMOSFETs with multiple traps coupling 其他 2015-01-01 Li, Yun; Lun, Zhiyuan; Huang, Peng; Wang, Yijiao; Jiang, Hai; Du, Gang; Liu, Xiaoyan 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2017/12/03 3D KMC Reliability Simulation of Nano-Scaled HKMG nMOSFETs with Multiple Traps Coupling 其他 2015-01-01 Li, Yun; Lun, Zhiyuan; Huang, Peng; Wang, Yijiao; Jiang, Hai; Du, Gang; Liu, Xiaoyan 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 HKMG  nMOSFETs  3D  kinetic Monte-Carlo  multiple traps  coupling  trap generation/recombination  capture time  emission time  threshold voltage shift  trapping  detrapping  PBTI