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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2011     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Degradation of PMOSFET with ultra-thin gate oxide under SHH stress 期刊论文 Journal of Central South University (Science and Technology), 2011, 卷号: Vol.42 No.9, 页码: 2741-2745 作者:  Hu, Shi-Gang;  Wu, Xiao-Feng;  Xi, Zai-Fang 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2020/01/05