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科研机构
北京大学 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2001 [4]
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发表日期:2001
专题:北京大学
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New threshold voltage shift model due to radiation in fully-depleted SOI MOSFET
期刊论文
tien tzu hsueh paoacta electronica sinica, 2001
Wan, Xin-Heng
;
Zhang, Xing
;
Tan, Jing-Rong
;
Gao, Wen-Yu
;
Huang, Ru
;
Wang, Yang-Yuan
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/17
Gate oxide reliability degradation by post polysilicon annealing and suppression method
期刊论文
pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2001
Gao, Wen-Yu
;
Liu, Zhong-Li
;
Yu, Fang
;
Zhang, Xing
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/17
Phenomenological MOSFET model including total dose radiation effects at a high total dose
期刊论文
pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2001
Wan, Xin-Heng
;
Zhang, Xing
;
Gao, Wen-Yu
;
Huang, Ru
;
Wang, Yang-Yuan
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/11/17
Electrical characteristics of 3-6nm ultra-thin gate oxide
期刊论文
pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2001
Gao, Wen-Yu
;
Zhang, Xing
;
Tian, Da-Yu
;
Zhang, Da-Cheng
;
Wang, Yang-Yuan
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提交时间:2015/11/17
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