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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：西安光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法 专利 专利号: CN105865369A, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2016-08-17 作者:  余学才;  肖景天;  任华西;  王晓庞 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2020/01/18 物体三维轮廓测量装置及测量方法 专利 专利号: CN101451826B, 申请日期: 2010-06-09, 公开日期: 2010-06-09 作者:  张军;  周常河;  贾伟;  武腾飞 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/26 物体三维轮廓测量装置 专利 专利号: CN201344792Y, 申请日期: 2009-11-11, 公开日期: 2009-11-11 作者:  张军;  周常河;  贾伟;  武腾飞 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/24