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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海应用物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种原位X射线衍射测试样品平台 专利 专利号: CN205991950U, 申请日期: 2017-03-01, 公开日期: 2017-03-01 作者:  杨铁莹;  李晓龙;  高兴宇 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2021/09/09 一种原位测试样品平台 专利 专利号: CN104458780A, 申请日期: 2015-03-25, 公开日期: 2015-03-25 作者:  朱大明;  李晓龙;  刘春泽;  顾月良;  阴广志 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2021/09/09