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上海微系统与信息技术... [3]
内容类型
成果 [2]
专利 [1]
发表日期
2008 [1]
2005 [1]
2004 [1]
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专题:上海微系统与信息技术研究所
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钠电子器件性能测试用的器件结构及制备方法
成果
鉴定: 无, 2008
夏吉林
;
宋志棠
;
张挺
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提交时间:2013/04/12
纳电子器件性能测试用的器件结构及制备方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN1588106, 申请日期: 2005-03-02, 公开日期: 2005-03-02
宋志棠
;
夏吉林
;
陈宝明
;
张挺
;
封松林
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2012/01/06
纳电子器件性能测试用的器件结构及制备方法
成果
鉴定: 无, 2004
宋志棠
;
夏吉林
;
张挺
;
封松林
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2013/04/12
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