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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文 北京: 中国科学院大学, 2017 作者:  周航 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2017/09/26 Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb   行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术研究 学位论文 北京: 中国科学院大学, 2017 作者:  刘元 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2017/09/26 电荷耦合器件  辐射损伤  位移损伤效应  温度效应  热像素   科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文 北京: 中国科学院大学, 2017 作者:  曾骏哲 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2017/09/26 电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟   行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017 作者:  刘元 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2017/09/26 电荷耦合器件  辐射损伤  位移损伤效应  温度效应  热像素   科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017 作者:  曾骏哲 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2017/09/26 电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟   辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017 作者:  周航 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2017/09/26 Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb   3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文 博士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者:  汪波 收藏  |  浏览/下载：193/0  |  提交时间：2016/09/27 CMOS图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固   3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2016 作者:  汪波 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2016/09/27 Cmos图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固