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半导体研究所 [30]
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期刊论文 [30]
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内容类型:期刊论文
专题:半导体研究所
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Si基外延Ge薄膜中残余应变的检测与分析
期刊论文
光电子·激光, 2012, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 1749-1753
周志文,李成,余金中
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2013/05/29
采用低温缓冲层技术在Si衬底上生长高质量Ge薄膜
期刊论文
光电子·激光, 2011, 卷号: 22, 期号: 7, 页码: 1030-1033
周志文
;
贺敬凯
;
李成
;
余金中
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浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2012/07/17
Quantitative strain characterization of SiGe heterostructures by high-resolution transmission electron microscopy
期刊论文
physica b-condensed matter, 2010, 卷号: 405, 期号: 16, 页码: 3433-3435
Zhao CW (Zhao C. W.)
;
Xing YM (Xing Y. M.)
;
Yu JZ (Yu J. Z.)
;
Han GQ (Han G. Q.)
收藏
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浏览/下载:101/3
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提交时间:2010/09/07
Si/Ge heterostructures
Strain
High-resolution Transmission electron
microscopy
Normal incidence p-i-n Ge heterojunction photodiodes on Si substrate grown by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition
期刊论文
optics communications, 2010, 卷号: 283, 期号: 18, 页码: 3404-3407
Zhou ZW (Zhou Zhiwen)
;
He JK (He Jingkai)
;
Wang RC (Wang Ruichun)
;
Li C (Li Cheng)
;
Yu JZ (Yu Jinzhong)
收藏
  |  
浏览/下载:88/0
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提交时间:2010/08/17
Germanium
Hererojunction
Photodiode
Tensile strain
Si衬底上Ge材料的UHVCVD生长
期刊论文
材料科学与工程学报, 2009, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 118-120
作者:
薛海韵
;
成步文
;
薛春来
收藏
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2010/11/23
Si_(0.75)Ge_(0.25)虚衬底上应变补偿Si/Si_(0.62)Ge_(0.38)量子阱发光
期刊论文
材料科学与工程学报, 2009, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 146-149
廖凌宏
;
周志文
;
李成
;
陈松岩
;
赖虹凯
;
余金中
;
王启明
收藏
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2010/11/23
高锗组分PIN锗硅光电探测器设计与模拟
期刊论文
红外与激光工程, 2008, 卷号: 37, 期号: 3, 页码: 440-443
作者:
张宇
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2010/11/23
硅基光电子学研究进展与趋势
期刊论文
世界科技研究与发展, 2007, 卷号: 29, 期号: 5, 页码: 50-56
余金中
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2010/11/23
重掺B对应变SiGe材料能带结构的影响
期刊论文
物理学报, 2007, 卷号: 56, 期号: 11, 页码: 6654-6659
作者:
薛春来
;
成步文
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2010/11/23
Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate
期刊论文
journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654
Zhao L (Zhao Lei)
;
Zuo YH (Zuo Yuhua)
;
Cheng BW (Cheng Buwen)
;
Yu JZ (Yu Jinzhong)
;
Wang QM (Wang Qiming)
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2010/04/11
Si1_xGex
Ge content
composition determination
double crystals X-ray diffraction (DCXRD)
micro-Raman measurement
BAND-GAP
HETEROSTRUCTURES
SUPERLATTICES
ALLOYS
RELAXATION
SCATTERING
THICKNESS
STRAIN
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