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Comparison of single-event upset generated by heavy ion and pulsed laser 期刊论文
Science China Information Sciences, 2017, 卷号: 60, 期号: 7
作者:  Liang, Bin;  Song, Ruiqiang;  Han, Jianwei;  Chi, Yaqing;  Chen, Rui
收藏  |  浏览/下载:64/0  |  提交时间:2017/09/14
Laser SEU sensitivity mapping of deep submicron CMOS SRAM 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 6
作者:  Yu, Yongtao;  Feng, Guoqiang;  Chen, Rui;  Han, Jianwei
收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2015/09/22
CMOS器件单粒子效应电荷收集机理 期刊论文
北京航空航天大学学报, 2014, 卷号: 40, 期号: 6, 页码: 839-843
作者:  董刚;  封国强;  陈睿;  韩建伟
收藏  |  浏览/下载:33/0  |  提交时间:2015/09/22
单粒子效应TCAD数值仿真的三维建模方法 期刊论文
核电子学与探测技术, 2013, 卷号: 33, 期号: 3, 页码: 289-295
陈睿; 纪冬梅; 封国强; 沈忱; 韩建伟
收藏  |  浏览/下载:58/0  |  提交时间:2014/04/30
基于TCAD和Geant 4的SRAM单粒子效应评估 期刊论文
空间科学学报, 2011, 卷号: 31, 期号: 4, 页码: 498-502
作者:  陈善强;  师立勤
收藏  |  浏览/下载:34/0  |  提交时间:2014/12/15


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