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Densely Connected Attention Flow for Visual Question Answering
会议论文
中国澳门, 2019-8
作者:
Liu, Fei
;
Liu, Jing
;
Fang, Zhiwei
;
Hong, Richang
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浏览/下载:0/0
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提交时间:2022/06/14
Software complexity measurement based on complex network
会议论文
Proceedings of the IEEE International Conference on Software Engineering and Service Sciences, ICSESS
作者:
Hanyan, L.
;
Shihai, W.
;
Bin, L.
;
Peng, X.
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/30
Computer software
Defects
Cascade networks
Defect prediction
Function levels
METRIC model
Software complexity
Software defects
Software metrices
Software systems
Complex networks
Plasma ghrelin levels are low in atrial septal defect patients with pulmonary arterial hypertension
会议论文
作者:
LI Zhao-feng
;
ZHOU Da-Xin
;
PAN Wen-Zhi
;
ZHANG Lei
;
GE Jun-bo
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/19
Real-time textural defect detection based on label run length co-occurrence matrix
会议论文
2011 International Conference on Transportation, Mechanical, and Electrical Engineering, TMEE 2011, Changchun, China
作者:
Bi Mingde
;
Zou Cao
;
Sun Zhigang
;
Li Yesong
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2015/08/25
Research on the band-gap of InN grown on siticon substrates
会议论文
32nd international symposium on compound semiconductors, rust, germany, sep 18-22, 2005
Xiao, HL
;
Wang, XL
;
Wang, JX
;
Zhang, NH
;
Liu, HX
;
Zeng, YP
;
Li, JM
收藏
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浏览/下载:100/15
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提交时间:2010/03/29
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
WURTZITE INN
NITRIDE
ABSORPTION
ALLOYS
FILMS
Low-frequency noise properties of GaN Schottky barriers deposited on intermediate temperature buffer layers
会议论文
1st international symposium on point defect and stoichiometry, sendai, japan, mar 20-22, 2003
Leung BH
;
Fong WK
;
Surya C
;
Lu LW
;
Ge WK
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2010/10/29
GaN
low-frequency noise
deep levels
deep level transient Fourier spectroscopy
DEVICES
Defect production in silicon irradiated with 750 MeV Ar ions
会议论文
作者:
Zhu, ZY
;
Hou, MD
;
Jin, YF
;
Liu, CL
;
Wang, YS
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2018/08/20
irradiation
defect
silicon
Defect production in silicon irradiated with 750 MeV Ar ions
会议论文
作者:
Zhu, ZY
;
Hou, MD
;
Jin, YF
;
Liu, CL
;
Wang, YS
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2018/08/20
irradiation
defect
silicon
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