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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 对222Rn、220Rn子体ɑ衰变探测效率的刻度方法 专利 申请日期: 2015-01-07, 公开日期: 2015-01-07 作者:  袁红志;  刘辉;  谭延亮 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/24 利用有效衰变常数开环式连续测量氡析出率的方法 专利 申请日期: 2014-05-07, 公开日期: 2014-05-07 作者:  谭延亮;  刘辉;  袁红志 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/24 测量荧光或冷光发射衰变的集成光电子系统 专利 专利号: CN1793861A, 申请日期: 2006-06-28, 公开日期: 2006-06-28 作者:  朱利恩·富凯;  伊安·哈蒂卡斯特勒;  若恩·P·赫宾;  安妮特·C·格罗特;  约翰·弗朗西斯·派特瑞拉 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2020/01/18 利用乳胶室探测器探测暗物质的方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: 200810156585, 公开日期: 2009-05-06 常进; 胡一鸣; 王楠森; 宫一忠; 唐和森; 张仁健 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2011/12/06