对222Rn、220Rn子体ɑ衰变探测效率的刻度方法 | |
袁红志; 刘辉; 谭延亮 | |
2015-01-07 | |
权利人 | 衡阳师范学院 |
公开日期 | 2015-01-07 |
URL标识 | 查看原文 |
申请日期 | 2014-10-08 |
专利申请号 | CN201410523669.9 |
内容类型 | 专利 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5304637 |
专题 | 衡阳师范学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 袁红志,刘辉,谭延亮. 对222Rn、220Rn子体ɑ衰变探测效率的刻度方法. 2015-01-07. |
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