|
已选(0)清除
条数/页： 排序方式：
|
| 一种PMOS剂量计零温度系数测量及抑制方法 专利
申请日期: 2021-10-08,
作者: 孙静; 刘海涛; 李小龙; 荀明珠; 于钢
  收藏 | 浏览/下载：16/0 | 提交时间：2021/12/02 |
| 荷电离子束流强度测量系统 专利
专利号: CN208188352U, 申请日期: 2018-12-04, 公开日期: 2018-12-04
作者: 姚存峰
收藏 | 浏览/下载：11/0 | 提交时间：2018/12/27 |
| 荷电离子束流强度测量系统及其测量方法 专利
专利号: CN108415063A, 申请日期: 2018-08-17, 公开日期: 2018-08-17
作者: 姚存峰
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2018/12/27 |
| 一种高温环境离子束辐照实验装置 专利
专利号: CN107727669A, 申请日期: 2018-02-23, 公开日期: 2018-02-23
作者: 李锦钰; 张桐民; 刘会平; 康龙; 董毅
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2018/12/27 |
| 用于元器件电离辐照的X射线辐照方法 专利
申请日期: 2017-09-29,
作者: 李豫东; 于刚; 于新; 何承发; 文林
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2019/08/07 |
| 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06,
作者: 孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2019/08/07 |
| 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06, 公开日期: 2019-05-31
作者: 孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发
收藏 | 浏览/下载：7/0 | 提交时间：2019/08/07 |
| 一种对双探头PMOS辐射剂量计进行退火的方法 专利
专利号: CN201010256968.2, 申请日期: 2012-10-03, 公开日期: 2010-12-08
作者: 刘梦新; 韩郑生; 赵超荣; 刘刚
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2016/04/08 |
| 一种能对电离辐射总剂量进行测量的新型固体剂量仪 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL98125702.X, 申请日期: 2003-07-23, 公开日期: 2013-11-27
范隆; 严荣良; 任迪远
收藏 | 浏览/下载：6/0 | 提交时间：2013/11/27 |
| 窗口可调式双壁电离室 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL96202310.8, 申请日期: 1997-03-12, 公开日期: 2013-11-27
靳涛
收藏 | 浏览/下载：8/0 | 提交时间：2013/11/27 |
