荷电离子束流强度测量系统及其测量方法 | |
姚存峰![]() | |
2018-08-17 | |
著作权人 | 中国科学院近代物理研究所 |
专利号 | CN108415063A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本公开提供了一种荷电离子束流强度测量系统及其测量方法,该测量系统包括离子束传输真空管道、电磁扫描设备、离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料;电磁扫描设备,设置在所述离子束传输真空管道前端的外部;离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料顺次设置在离子束传输真空管道内,其中辐照材料设置在离子束传输真空管道的后端。本公开突破了传统铝箔三明治测束技术中存在的测量精度差,易烧蚀损坏等问题,同时也克服了样品与法拉第筒一体式设计中操作不便利、导电样品限制等不足,采用一种半拦截式的测束技术,更加适合在强流、长时间、不同辐照材料实验中使用。 |
公开日期 | 2018-08-17 |
申请日期 | 2018-05-14 |
状态 | 实质审查 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://119.78.100.186/handle/113462/60605] ![]() |
专题 | 中国科学院近代物理研究所 |
作者单位 | 中国科学院近代物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 姚存峰. 荷电离子束流强度测量系统及其测量方法. CN108415063A. 2018-08-17. |
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