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| 成分濃度測定装置および方法 专利
专利号: JP2018171178A, 申请日期: 2018-11-08, 公开日期: 2018-11-08
作者: 田中 雄次郎; 田島 卓郎; 中村 昌人
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| 成分濃度測定装置および方法 专利
专利号: JP2017217203A, 申请日期: 2017-12-14, 公开日期: 2017-12-14
作者: 田中 雄次郎; 瀬山 倫子
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| 成分濃度測定装置および方法 专利
专利号: JP2017217202A, 申请日期: 2017-12-14, 公开日期: 2017-12-14
作者: 田中 雄次郎; 瀬山 倫子
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| 光物性定数計測方法および光物性定数推定装置 专利
专利号: JPWO2014112020A1, 申请日期: 2017-01-19, 公开日期: 2017-01-19
作者: 小西 毅; 高橋 考二; 川西 健太郎
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| 成分濃度測定装置および測定方法 专利
专利号: JP2016154585A, 申请日期: 2016-09-01, 公开日期: 2016-09-01
作者: 田中 雄次郎; 小泉 弘; カムー セルジュ; 葉玉 恒一; 樋口 雄一
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| 半導体発光素子の製造方法 专利
专利号: JP2009200382A, 申请日期: 2009-09-03, 公开日期: 2009-09-03
作者: 奥 保成; 小林 祐二; 福田 康彦
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| レーザダイオードの発光点位置の測定方法、測定装置、およびマウント装置 专利
专利号: JP4357168B2, 申请日期: 2009-08-14, 公开日期: 2009-11-04
作者: 宮内 孝; 下山 禎朗
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| 光通信用光源部に格納する光出力波長特性及び光出力電力特性の測定点の選定方法 专利
专利号: JP2006261314A, 申请日期: 2006-09-28, 公开日期: 2006-09-28
作者: 河合 伸悟; 岩月 勝美; 吉本 直人
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| 光パワー測定方法及び装置 专利
专利号: JP2002048642A, 申请日期: 2002-02-15, 公开日期: 2002-02-15
作者: 小野 晴義; 椎葉 一美; 馬場 功
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