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一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法 专利
专利号: 2015100513420, 申请日期: 2017-06-27,
作者:  王德强;  黄成军;  罗军;  赵超;  杜春雷
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具有台面和改进的电流输送的AlGaInN半导体激光器 专利
专利号: CN104782005A, 申请日期: 2015-07-15, 公开日期: 2015-07-15
作者:  A.S.阿夫拉梅斯库;  G.布吕德尔;  C.艾希勒;  S.格哈德;  T.武尔姆
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