一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法 | |
王德强![]() ![]() ![]() | |
2017-06-27 | |
著作权人 | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
专利号 | 2015100513420 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明提供一种纳米颗粒检测系统,包括筛选层和检测装置,筛选层上设有筛选通道,纳米颗粒从筛选通道一侧到另一侧,再由检测装置对通过筛选通道的颗粒进行检测。筛选层上设置多个筛选通道,形成通道阵列。每个筛选通道的最小口径设为a,筛选层上就设有不同a值的筛选通道,纳米颗粒尺寸小于对应a值的颗粒则通过该筛选通道。当大小不一的纳米颗粒混合在一起的时候,根据颗粒本身的大小选择通过适合尺寸的筛选通道,实现筛分。 |
分类号 | G01n15/02(2006.01)i |
申请日期 | 2015-01-30 |
语种 | 中文 |
状态 | 已授权 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://119.78.100.138/handle/2HOD01W0/5390] ![]() |
专题 | 精准医疗单分子诊断技术研究中心 微纳制造与系统集成研究中心 |
作者单位 | (1)中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王德强,黄成军,罗军,等. 一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法. 2015100513420. 2017-06-27. |
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