一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法

	一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法
	王德强; 黄成军; 罗军; 赵超; 杜春雷; 石彪
	2017-06-27
著作权人	中国科学院重庆绿色智能技术研究院
专利号	2015100513420
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明提供一种纳米颗粒检测系统，包括筛选层和检测装置，筛选层上设有筛选通道，纳米颗粒从筛选通道一侧到另一侧，再由检测装置对通过筛选通道的颗粒进行检测。筛选层上设置多个筛选通道，形成通道阵列。每个筛选通道的最小口径设为a，筛选层上就设有不同a值的筛选通道，纳米颗粒尺寸小于对应a值的颗粒则通过该筛选通道。当大小不一的纳米颗粒混合在一起的时候，根据颗粒本身的大小选择通过适合尺寸的筛选通道，实现筛分。
分类号	G01n15/02(2006.01)i
申请日期	2015-01-30
语种	中文
状态	已授权
内容类型	专利
源URL	[http://119.78.100.138/handle/2HOD01W0/5390]
专题	精准医疗单分子诊断技术研究中心微纳制造与系统集成研究中心
作者单位	(1)中国科学院重庆绿色智能技术研究院
推荐引用方式 GB/T 7714	王德强,黄成军,罗军,等. 一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法. 2015100513420. 2017-06-27.