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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 内容类型：专利    专题：西安光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Ultra-sensitive, real-time trace gas detection using high-power, multi-mode semiconductor laser and cavity ringdown spectroscopy 专利 专利号: WO2018200416A1, 申请日期: 2018-11-01, 公开日期: 2018-11-01 作者:  RAO, GOTTIPATY;  KARPF, ANDREAS 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/12/31 Single-shot pulse contrast measuring device based on non-harmonic long-wavelength sampling pulse 专利 专利号: US20120228501A1, 申请日期: 2012-09-13, 公开日期: 2012-09-13 作者:  QIAN, LIEJIA;  MA, JINGUI;  YUAN, PENG;  WANG, YONGZHI;  ZHANG, DONGFANG 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/12/31 Semiconductor laser-based spectrometer 专利 专利号: US20060280216A1, 申请日期: 2006-12-14, 公开日期: 2006-12-14 作者:  JAYARAMAN, VIJAYSEKHAR 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/30 Far-field scanning apparatus and method for rapid measurement of light source characteristics with high dynamic range 专利 专利号: EP1226411A2, 申请日期: 2002-07-31, 公开日期: 2002-07-31 作者:  GUTTMAN, JEFFREY, L. 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2020/01/13 Far-field scanning apparatus and method for rapid measurement of light source characteristics with high dynamic range 专利 专利号: WO2001036931A3, 申请日期: 2002-01-17, 公开日期: 2002-01-17 作者:  GUTTMAN JEFFREY L 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/31 Optical device for characteristic inspection of photosemiconductor element 专利 专利号: JP1988026545A, 申请日期: 1988-02-04, 公开日期: 1988-02-04 作者:  TADA TOSHIO 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/31