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半导体器件及其制造方法 专利
专利号: CN201410398357.X, 申请日期: 2018-12-11, 公开日期: 2016-03-30
作者:  王桂磊;  崔虎山;  殷华湘;  李俊峰;  朱慧珑
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氮化硅高深宽比孔的循环刻蚀方法 专利
申请日期: 2012-07-29,
作者:  孟令款
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氮化硅高深宽比孔的刻蚀方法 专利
申请日期: 2012-07-03,
作者:  孟令款
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一种高密度导电通道基板及其制造方法 专利
申请日期: 2011-05-19, 公开日期: 2012-11-20
作者:  于中尧
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一种高密度凸点基板及其制造方法 专利
申请日期: 2011-05-19, 公开日期: 2012-11-20
作者:  于中尧
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基于自支撑薄膜高高宽比深亚微米、纳米金属结构制作工艺 专利
专利号: CN200410101873.8, 申请日期: 2009-03-04, 公开日期: 2006-07-12
作者:  谢常青;  叶甜春;  陈大鹏
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