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确定单晶硅湿法刻蚀制作中阶梯光栅中刻蚀截止点的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201310251594.9, 申请日期: 2014-11-19, 公开日期: 2014-11-19
焦庆斌 谭鑫 巴音贺希格 齐向东
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一种空间遥感光谱仪器在轨高精度光谱定标的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201210243439.8, 申请日期: 2014-03-12, 公开日期: 2014-03-12
王淑荣; 李占峰; 黄煜
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线位移测量方法及测量装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201210088474.7, 申请日期: 2014-01-15, 公开日期: 2014-01-15
吴宏圣 孙强 曾琪峰 卢振武 乔栋
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线位移测量方法及测量装置 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-08-01, 公开日期: 2012-08-29
吴宏圣; 孙强; 曾琪峰; 卢振武; 乔栋
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大口径离轴凸非球面反射镜面形检测方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-06-27, 公开日期: 2012-08-29
王孝坤; 黎发志; 郑立功; 张学军
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部分补偿非球面反射镜面形检测方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-06-20, 公开日期: 2012-08-29
王孝坤; 闫锋; 郑立功; 张学军
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一种标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-06-13, 公开日期: 2012-06-13
李建荣; 王志乾; 赵雁; 刘畅; 沈铖武; 耿天文; 刘绍锦
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一种凹面光栅衍射效率的测试方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-04-11, 公开日期: 2012-04-11
巴音贺希格; 寇婕婷; 吴娜; 于宏柱; 唐玉国; 齐向东
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一种高精度系统波像差检测方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-03-07, 公开日期: 2012-08-29
向阳; 于长淞
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一种使用菲索干涉仪检测被测元件的快速自动调整的方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-01-18, 公开日期: 2012-08-29
代雷; 隋永新; 杨怀江; 王高文; 王飞
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