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科研机构
高能物理研究所 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2013 [1]
2009 [1]
2004 [1]
2002 [1]
1999 [1]
学科主题
Physics [5]
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学科主题:Physics
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X-ray probe of GaN thin films grown on InGaN compliant substrates
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2013, 卷号: 102, 期号: 13, 页码: 132104
作者:
Xu, XQ
;
Li, Y
;
Liu, JM
;
Wei, HY
;
Liu, XL
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2016/04/08
High resolution X-ray diffraction investigation of epitaxially grown SrTiO3 thin films by laser-MBE
期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2009, 卷号: 33, 期号: 11, 页码: 949-953
作者:
Zhai, ZY
;
Wu, XS
;
Jia QJ(贾全杰)
;
Jia, QJ
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/06/29
laser-MBE
grazing incident X-ray diffraction
reciprocal space mapping
Microstructures and strain relaxation in modulation-doped AlxGa1-xN/GaN heterostructures
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B, 2004, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 989-998
作者:
Tan, WS
;
Shen, B
;
Sha, H
;
Cai, HL
;
Wu, XS
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2016/06/29
high resolution X-ray diffraction
metal organic chemical vapor deposition
reciprocal space mapping
semiconducting III-V nitride
strain relaxation
relaxation line model
Thermal stability of cubic GaN film grown by molecular-beam epitaxy on GaAs(001)
期刊论文
PHYSICS LETTERS A, 2002, 卷号: 299, 期号: 1, 页码: #REF!
作者:
Xu, M
;
Liu, CX
;
Liu, HF
;
Luo, GM
;
Chen, XM
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2016/04/12
Interfacial structure of molecular beam epitaxial grown cubic-GaN films on GaAs(001) probed by x-ray gazing-angle specular reflection
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 1999, 卷号: 74, 期号: 20, 页码: 2981-2983
作者:
Li, JH
;
Chen, H
;
Cai, LC
;
Cui, SF
;
Yu, WX
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提交时间:2016/06/29
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